• 手机:13524742860
  • 座机:021-36400739
  • 邮箱:yangmin777@163.com

FEI 扫描电子显微镜 (SEM) 产品列表

产品名称:FEI 扫描电子显微镜 (SEM) 产品列表

产品规格:进口

产品单位:台

产品详情

FEI 扫描电子显微镜 (SEM) 产品列表

美国FEI 扫描电子显微镜 (SEM) 解析从光学范畴到亚纳米长度尺度的特性。我们灵活的 SEM 可满足各种需求,从科学和工程中的材料表征一直到自然资源中的应用、制造和生物系统。

序号

产品系列

产品简介

Apreo

扫描电子显微镜Apreo 的复合透镜设计结合了静电和磁浸没技术,可产生前所未有的高分辨率和信号选择。其独特的探测器系统、高压低真空模式以及智能扫描提供了许多用于处理极具挑战性的样品的策略。这种多功能性使得 Apreo 成为研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台,并且不会降低磁性样品性能。

Explorer 4 Analyzer

适用于工业生产环境,Explorer 4分析仪用于要求高的军事、油田、工业和工厂地面设置。通过扫描电子显微镜(SEM)技术和EDX光谱分析,Explorer 4分析仪专业的自动化粒子分析,可以迅速表征整个样品的大小,形状和元素组成。使用Explorer 4分析系统,监测清洁和识别机动车流体系统中的污染源,可降低现场故障率和保修成本。对于钢铁和有色金属的生产,自动检测和分类夹杂物的能力可以提高生产率、产品质量和主要的成本节约。磨损碎片表征的自动化解决方案帮助制造商在生产车间达到新的清洁标准和质量控制权利。

Phenom Desktop SEM

此系列为台式扫描电镜,多款台式扫描电子显微镜(台式场发射扫描电镜、台式CeB6灯丝扫描电镜、电镜能谱一体机、荧光电镜一体机等)广泛应用于材料科学、工业制造、地球科学、生命科学、电子、锂电池、硅藻、教育、鉴定等诸多领域。

Prisma E SEM

新的Prisma E扫描电子显微镜(SEM)结合了广泛的成像和分析模式与先进的自动化提供了完整的解决方案。对于要求高分辨率、样品灵活性和易于使用的操作界面的工业研发、质量控制和故障分析应用是理想选择。

Q Series

Q25 / Q45 用于材料科学的扫描电子显微镜

对于失效分析、质量控制和材料表征而言、Q25是经济、高效的高分辨成像和分析应用的解决方案。在设计上侧重易用性、Q25可以让用户迅速得到他们所需的数据。

为应对不导电样品、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了对专用的样品制备步骤或者附加的样品镀膜仪的需求。Q25样品室的设计和真空系统能够快速更换样品、允许日常高效、快速检测样品。

为满足客户对大样品或块状样品的要求、Q45提供了更大的真空样品室和100mm的样品台行程。另外、Q45加上了环境扫描(ESEM)模式、扩展了SEM的成像和分析功能到加热、含水或放气的样品。

Quattro ESEM

FEI Quanta系列包括六款可变压力和环境扫描电子显微镜 (ESEM)。所有这些产品均可满足工业工艺控制实验室、材料科学实验室和生命科学实验室的多种样本和成像要求。

Quanta 系列扫描电子显微镜属于多功能、高性能仪器,并具有高真空、低真空和ESEM三种模式,能够处理非常多的样本类型

Teneo 系列

FEI Teneo SEM 可为金属研究人员、学术和工业研究机构提供超高分辨率成像和高通量分析性能。

检测领域的一场变革 - TrinityTM 检测方法能够对广泛的样本提供很高对比度,从而使得成像速度很快并令图像易于解释。通过与标准室型检测器同步运行的三个单独的镜头内检测器,可从各个角度执行同步检测,从而节省时间、提供较多信息并防止样本污染和受损。

Verios

Verios FEI XHR(极高分辨率)SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度,满足材料精密测量所需,同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。