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聚焦离子束扫描电子显微镜
产品名称：聚焦离子束扫描电子显微镜
产品规格：进口
产品单位：台
产品详情
蔡司聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）
蔡司聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）——高通量3D分析和样品制备而设计的FIB-SEM,将 GEMINI 电子束（e-Beam）镜筒的三维成像和分析性能与用于纳米级材料加工和样品制备的聚焦离子束结合在一起。蔡司聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）简介：
使用蔡司Crossbeam使您在三维纳米分析流程中获益
将场发射电子显微镜的成像与分析能力与聚焦离子束的加工能力结合。
无论是刻蚀，成像或做三维分析，Crossbeam将提高聚焦离子束的应用速率。通过新的能谱模块实现大部分的三维成分分析工作。
您可自主选择使用蔡司 Crossbeam 340的可变气压功能，或者使用Crossbeam 550来满足您急需的表征应用。
现在有更大的样品舱室供您选择。
蔡司聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）优势：
*z大化SEM的探测能力
低电压电子束分辨率提升
*提高您的FIB样品的测试加工效率
通过FIB智能的刻蚀策略，其材料移除速率提升
*在FIB-SEM分析中体验优的三维空间分辨率
体验整合的三维能谱分析所带来的优势
蔡司聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）技术：
*SEM电子光学系统
有二类镜筒可以选择
蔡司Crossbeam的FE-SEM镜筒与蔡司所有的FE-SEM系统一致，都是基于蔡司Gemini技术。您可选择Crossbeam 340使用可变气压模式的Gemini VP镜筒，或者Crossbeam 550使用Gemini II镜筒。
* Gemini-新型光学系统
极表面成像的优势
对电子束敏感的样品或不导电样品往往需要低着陆能量下的高分辨成像。现在蔡司 Crossbeam 550 引入了两步减速方式，Tandem decel。
* FIB-SEM技术
具有100nA束流
蔡司Crossbeam的聚焦离子束镜筒具有100nA的束流。在保持加工精度的前提下提高您的FIB工作效率。